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科技成果名称:一种薄膜的厚度测量系统
科技成果类型:发明专利
专利号:ZL202011024894.X
专利授权日:2024-07-02
专利权人:广东海洋大学
发明人:杨文虎,张海康,黄存友,杨忠学,崔丽,付东洋
专利简介:目前,涂胶薄膜、微电子薄膜、光学薄膜、抗氧化薄膜、巨磁电阻薄膜和高温超导薄膜等在工业生产和人类生活中应用广泛,大规模集成电路的生产工艺中的各种薄膜,随着电路集成程度的提高,薄膜厚度的微小变化,就会对集成电路的性能产生直接的影响。因此,工业生产的薄膜,其厚度是一个非常重要的参数。本专利提供一种采用光学测量的方法测量薄膜的厚度的测量系统,包括:探测光纤、第一光纤探头、第二光纤探头、光电转换器、解调放大器、光源、调制脉冲发生器、相敏检波器等模块。该方法不会对薄膜造成损伤,测量结果准确。
受让方:安徽信于行信息科技有限公司
(统一社会信用代码:91340111MA8NWUR6XJ)
是否关联交易:否
定价方式:协议定价
专利转让金额:人民币0.50万元
公示时间:2026年1月15日--2026年月29日
联系人:丁老师
联系电话:0759-8218325
科学技术部
2026年1月15日